这个问题在极氪007和银河E8之后，美国会出来。
传感出GDDR类SGRAM的高速化正在迅速推进。DRAM技术节点名称反映实际物理尺寸DRAM的技术负载名称与逻辑不同，器最但更接近其实际尺寸。
新推C系另一个问题是半导体逻辑和DRAM的器件和工艺技术已经变得截然不同。列测量半导体技术路线图(IRDS)2017版。2000年之前，仪器仪表DRAM存储容量迅速扩张，尤其是在20世纪70年代和80年代。
美国解释DRAM基本架构的图。传感出DRAM开发动向的范式转变。
器最在国际学会ISSCC上发表的GDDR系SGRAM的数据传输速度在2004年至2010年的6年间增加了4.4倍。
在左边的电路图中，新推C系选择晶体管（通常是n沟道MOSFET）的栅极是字线（红色：WL），源极是位线（黄色：WL）。当前，列测量EDA逐步上云已成趋势。
为了应对这一挑战并缩短验证周期，仪器仪表硬件仿真成为了超大规模集成电路验证的关键工具。思尔芯在EDA领域的技术实力受到了业界的广泛认可，美国通过多年耕耘，美国已在数字前端EDA领域构筑了技术与市场的双优势地位，已与超过600家国内外企业建立了良好的合作关系。
新技术浪潮推动EDA创新与变革当前，传感出除了本土EDA厂商和行业伙伴自身努力谋发展之外，传感出芯片领域新兴技术层出不穷，新兴架构、标准、需求和理念也在不断推动行业进步。陈英仁表示，器最Chiplet趋势下，更多异构芯片和各类总线的加入，整个过程将会变得更加复杂，对EDA工具也提出了新要求。